ZEISS O-INSPECT

Descrição

ZEISS O-INSPECT aparece en el legacy como una plataforma multisensor para tareas de metrología que combinan captura óptica y táctil. AMS la incorpora como producto de ZEISS con entidad comercial clara, apoyada por brochure y assets propios, ideal para preservar una pieza fuerte del catálogo dimensional sin mezclarla con páginas puramente accesorias.

• Brochure ZEISS O-INSPECT