Otomografia computadorizada industrial (TC)É uma ferramenta fundamental para análise não destrutiva de componentes complexos. No âmbito de um estudo científico recentemente publicado noRevista IEEE Aeroespacial e Sistemas Eletrônicos,AMS – Sistemas Avançados de Máquinasparticipou contribuindo com sua capacidade tecnológica emmetrologia tomografia computadorizada, aplicado à análise de um sistema eletrônico destinado a aplicações espaciais.
O estudo: qualificação de um Computador de Bordo para CubeSats
A obra, intitulada“Qualificação de um CubeSat OBC baseado em COTS por meio de irradiação de prótons com estimativa de dose em nível de matriz”, foi realizado por uma equipe de pesquisa daUNSAM-CONICET e CNEA, e teve como objetivo avaliarresiliência contra radiação ionizantedoComputador de bordo LabOSat-02, projetado para nanossatélites operando emórbita terrestre baixa (LEO).
Como parte do processo de qualificação, o sistema foi submetido aIrradiação de prótons de 14 MeV, permanecendo totalmente operacional durante o teste, enquanto foram monitorados erros de memória, consumo elétrico, temperatura e operação da interface.
O papel da AMS no estudo
AMS foi responsável pela realização da tomografia computadorizada (TC) do módulo LabOSat-02, uma etapa fundamental dentro da metodologia de trabalho.
Os autores agradecem expressamente à AMS por esta contribuição, indicando que a tomografia computadorizada nos permitiu realizarcálculos teóricos mais precisos, fundamental para a análise do comportamento do sistema sob radiação.
A tomografia foi realizada com aparelhoEquipamento ZEISS METROTOM 800, tecnologia de referência emtomografia computadorizada industrial de alta precisão.
METROTOM CT Scan: informações críticas para análise científica
O estudo usou resultados de tomografia computadorizada para:
- Determine odimensões reais da matriz (chip de silício)do microcontrolador
- Meça com precisão oespessuras de encapsulamentosuperior e inferior
- Obtenha umrepresentação interna não destrutivado componente eletrônico
Esses dados geométricos, obtidos por TC, foram utilizados comoparâmetros de entradaem simulações físicas (TRIM), que permitiram calcular quanta energia os prótons depositam no silício e, consequentemente, estimar adose absorvida no nível do chip (estimativa da dose no nível do molde).
O relatório destaca que esta abordagem melhora a precisão em comparação com estimativas baseadas apenas em valores genéricos ou em folhas de dados.
Tomografia computadorizada industrial aplicada a setores altamente exigentes
A participação da AMS neste estudo demonstra comoTomografia computadorizada industrial METROTOMÉ uma ferramenta estratégica não só para controle de qualidade e metrologia dimensional, mas também parapesquisa científica avançada, incluindo aplicações aeroespaciais e eletrônicas de alta confiabilidade.
A capacidade devisualize, meça e analise estruturas internas complexas sem destruir o componenteÉ decisivo em ambientes onde a precisão dos dados geométricos impacta diretamente os modelos físicos e as decisões de engenharia.
