AMS disertó acerca de la Caracterización 2D/3D no destructiva Introducción a la microscopía de Rayos-X en el INTI en el marco de una capacitación que brinda el grupo Carl Zeiss en el INTI.
AMS disertó acerca de la Caracterización 2D/3D no destructiva Introducción a la microscopía de Rayos-X en el INTI en el marco de una capacitación que brinda el grupo Carl Zeiss en el INTI.